คุณสมบัติอันโดดเด่น
- ระบบ WLI Optical สามารถบันทึกข้อมูล 3 มิติ เพื่อใช้วิเคราะห์พื้นผิวและความหยาบผิวแบบ 3 มิติ แล้วยังสามารถวัดขนาดและการวัดชิ้นงานตัดขวางที่ความสูงที่กำหนด โดยใช้ข้อมูลแบบ 3 มิติ
- ฟังก์ชัน Point From Focus (PFF) ช่วยให้สามารถวัดงาน 3 มิติ ด้วยภาพตัดขวางแบบหลายส่วนได้การสแกนวัตถุด้วยการโฟกัสอัตโนมัติ เลนส์ใกล้วัตถุจะสามารถจับภาพหน้าตัดได้หลายภาพที่ความสูงต่างกัน (Image Contrasts) จึงได้ข้อมูลรูปทรง 3 มิติมาจากภาพดังกล่าว
Hyper Quick Vision White Light Interferometer
การวัดขนาดแบบไม่สัมผัส ความแม่นยำสูง
เครื่อง Quick Vision Series สามารถทำการวัดชิ้นงาน 3 มิติที่มีความแม่นยำสูงในพื้นที่ขนาดเล็กมากได้ ด้วยการใช้ White light interferometer เพื่อการวิเคราะห์พื้นผิว ความลึกของรูขนาดเล็ก การวัดเส้นและช่องว่างบนแผงวงจร
ความแม่นยำและความละเอียดสูง
การวัด 2 มิติ /3 มิติ แบบไม่สัมผัส
การนำ White light interferometer (WLI optical head) มาใช้กับระบบการวัดด้วยภาพ หรือ Vision measuring systems ช่วยให้สามารถวัดได้อย่างหลากหลาย ทั้งการวัดพิกัดและขนาดแบบ 2 มิติ, การวิเคราะห์พื้นผิวในพื้นที่ขนาดเล็ก, การวัดความลึกของรูขนาดเล็ก และการวัดขนาดของสายไฟบนแผงวงจรแบบ 3 มิติที่มีความแม่นยำสูง
ความสามารถในการจัดการสูง
การวัดพื้นผิวที่หลากหลาย
วิธีการทำงานแบบ WLI สามารถรองรับการวัดพื้นผิวได้อย่างหลากหลาย รวมทั้งพื้นผิวแบบกระจายแสง (Diffuser surface) และพื้นผิวกระจก โดยใช้อัลกอริธึมที่เป็นกรรมสิทธิ์ของ Mitutoyo
วิธี WLI ยังรองรับการวัดพื้นผิวชิ้นงานที่มีความสว่างต่างกันมากๆ เช่น ชิ้นงานที่มีพลาสติกและโลหะอยู่ผสมกัน
ซอฟต์แวร์สนับสนุนที่ทรงพลัง
QV3DPAK
วิเคราะห์ 3D shape data ตั้งแต่ Interference Fringes ไปจนถึง Display shapes หรือ เอาท์พุตข้อมูลระบบคลาวด์ไปยังแหล่งข้อมูลภายนอก
3D Data สามารถถ่ายโอนไปยังซอฟต์แวร์วิเคราะห์รูปร่าง/ซอฟต์แวร์สนับสนุนการวัดและประเมินผล (ตัวเลือกเสริม) เพื่อใช้การวัดรูปร่างและการวิเคราะห์พื้นผิวชิ้นงาน
